Fourniture et installation de microscope électronique à balayage
Centre de Valduc
Fourniture d’un MEB-FEG complet avec installation, mise en service et essais de bon fonctionnement en présence du personnel technique.
Maintenance préventive et corrective de 3 ans (après garantie 12 mois), incluant pièces, main-d’œuvre, déplacements et consommables.
Caractéristiques clés : résolution <1 nm, tension ~200 V–30 kV, courant pA–nA, précision de platine <1 µm, compatibilité détecteurs EDS/EBSD.
Interface logicielle compatible Windows 11 avec export TIFF/JPEG/RAW/ASCII ; contraintes d’installation : isolation anti‑vibrations et blindage magnétique.
Microscope électronique à balayage à effet de champ
CNRS Délégation Hauts-de-France
- Fourniture, livraison, installation, mise en service et formation pour un FE-SEM destiné à mesures Hall (résistivité, concentration, type et mobilité des porteurs).
- Fournir le système de pilotage et logiciel complet, config. informatique associée, tests d'acceptation et documentation.
- Garantie de base + réponse obligatoire à une extension de garantie de 1 an ; option facultative de contrat de maintenance 1 an.
- Installation prévue en salle propre (classe ISO6) : prévoir conditionnement, manutention et tests métrologiques.
- Indiquer consommation électrique, gestion des consommables/recyclage et options d'optimisation énergétique.
Équipements de microscopie électronique, métallisation et nano‑indentation
Université de Rouen Normandie
Faisceau électronique à émission de champ couplé à une colonne ionique Ga (500 V–30 kV) pour imagerie et usinage FIB, avec STEM rétractable et multiples détecteurs.
Microanalyse EBSD (caméra CMOS, TKD) et EDS (SDD motorisé ≥ 100 mm²) intégrées ; GIS pour dépôts Pt/W et micromanipulateur motorisé pour prélèvement de lames.
Contraintes radioprotection : solutions de limitation de contamination, commandes déportées ≥ 10 m et description de l'organisation SAV en zone réglementée exigées.
Tous les détails du marché
Gagnez du temps, toutes les infos des documents sont déjà analysées: cahier des charges, infos clés, budget, contact, etc
Diagnostic amiante et HAP sur enrobés routiers
Communauté de communes Auray Quiberon Terre Atlantique
Tous les détails du marché
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Amincisseur ionique pour MET
CNRS - IMN (UMR 6502)
Tous les détails du marché
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Curage et désamiantage de parking
Brest en vue SPL
Tous les détails du marché
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Désamiantage et déconstruction de l'école maternelle
Commune de Saujon
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Module disque tournant pour microscope à fluorescence
Ecole normale supérieure - PSL
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Microscope optique couplé à spectromètre infrarouge FTIR
CNRS Institut Charles Sadron
9 marchés publics pour microscope électronique
Fourniture et installation de microscope électronique à balayage
Centre de Valduc
Fourniture d’un MEB-FEG complet avec installation, mise en service et essais de bon fonctionnement en présence du personnel technique.
Maintenance préventive et corrective de 3 ans (après garantie 12 mois), incluant pièces, main-d’œuvre, déplacements et consommables.
Caractéristiques clés : résolution <1 nm, tension ~200 V–30 kV, courant pA–nA, précision de platine <1 µm, compatibilité détecteurs EDS/EBSD.
Interface logicielle compatible Windows 11 avec export TIFF/JPEG/RAW/ASCII ; contraintes d’installation : isolation anti‑vibrations et blindage magnétique.
Microscope électronique à balayage à effet de champ
CNRS Délégation Hauts-de-France
- Fourniture, livraison, installation, mise en service et formation pour un FE-SEM destiné à mesures Hall (résistivité, concentration, type et mobilité des porteurs).
- Fournir le système de pilotage et logiciel complet, config. informatique associée, tests d'acceptation et documentation.
- Garantie de base + réponse obligatoire à une extension de garantie de 1 an ; option facultative de contrat de maintenance 1 an.
- Installation prévue en salle propre (classe ISO6) : prévoir conditionnement, manutention et tests métrologiques.
- Indiquer consommation électrique, gestion des consommables/recyclage et options d'optimisation énergétique.
Équipements de microscopie électronique, métallisation et nano‑indentation
Université de Rouen Normandie
Faisceau électronique à émission de champ couplé à une colonne ionique Ga (500 V–30 kV) pour imagerie et usinage FIB, avec STEM rétractable et multiples détecteurs.
Microanalyse EBSD (caméra CMOS, TKD) et EDS (SDD motorisé ≥ 100 mm²) intégrées ; GIS pour dépôts Pt/W et micromanipulateur motorisé pour prélèvement de lames.
Contraintes radioprotection : solutions de limitation de contamination, commandes déportées ≥ 10 m et description de l'organisation SAV en zone réglementée exigées.
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Diagnostic amiante et HAP sur enrobés routiers
Communauté de communes Auray Quiberon Terre Atlantique
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Amincisseur ionique pour MET
CNRS - IMN (UMR 6502)
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Curage et désamiantage de parking
Brest en vue SPL
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Désamiantage et déconstruction de l'école maternelle
Commune de Saujon
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Module disque tournant pour microscope à fluorescence
Ecole normale supérieure - PSL
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Microscope optique couplé à spectromètre infrarouge FTIR
CNRS Institut Charles Sadron