Microscope 3D pour observation et métrologie sans contact
Description et fonctions principales
Objectif général
Fourniture, livraison, installation et mise en service d'un microscope 3D sans contact destiné à l'observation et à la métrologie automatisée de substrats et motifs semi-conducteurs.
Fonctionnalités optiques et mécaniques
- Table motorisée compatible wafers jusqu'à 300 mm ; observation possible sur substrats jusqu'à 200 mm via ports/platines adaptatives.
- Acquisition et reconstruction 3D automatique d'une surface définie ; mesures de rugosité, pente, volume, profil, hauteurs et diamètres de plots métalliques et couches minces.
- Objectifs motorisés et système de changement rapide d'objectifs ; déplacement X/Y motorisé de la platine ; focus automatique et correction de plan.
- Plage de taille / hauteur : prise en charge d'échantillons de quelques centaines de microns à au moins 35 mm de hauteur utile ; capacité d'analyse de motifs ≥ 2 µm.
Performances métrologiques et logiciels
- Mesures relatives avec tolérances demandées (ex. hauteurs/diamètres ±5% ou mieux ; répétabilité ≤2–3% selon procédure) ; mesures multi-points et alignement automatique.
- Reconstruction 2D/3D, génération et export de rapports métrologiques, gestion d'images ; gestion multi-utilisateurs et possibilité de portage sur réseau.
- Éclairage LED ou laser selon besoins d'inspection ; acquisition, stockage et traçabilité des jeux de données.
Exigences d'exploitation, sécurité et environnement
- Conception et fonctions assurant une utilisation en libre-service par environ 15 utilisateurs : contrôle des accès, gestion des erreurs de manipulation et sécurité opérateur intégrée.
- Conformité et exigences relatives à la sécurité machine et radiologique (références normatives demandées), exigences de propreté et compatibilité avec environnements de classe ISO.
- Exigences de performance énergétique, gestion des déchets et démonstration d'initiatives RSE dans l'offre.
Installation, formation, garantie et maintenance
- Conditions d'emballage et de livraison adaptées aux environnements propres (conditionnement spécifique, exigences de propreté pour salle blanche, modalités d'installation et de préparation du site).
- Formation des utilisateurs et documentation complète fournie à la livraison.
- Garantie contractuelle d'au moins 1 an avec intervention sous 48 heures ; maintenance préventive et corrective assurée au moins 10 ans, fourniture de pièces détachées et proposition de contrat de maintenance avec indicateurs de performance.
Options et accessoires
- Fourniture d'options et accessoires chiffrables séparément : objectifs supplémentaires, outils de calibration, platines/adaptateurs pour différents formats d'échantillons, modules logiciels complémentaires.
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Critères d'évaluation
| Pondération | Critère |
|---|---|
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Échantillons
Produits à fournir
- Plot galette In
- Plot galette SnAg
- Forte pente (sphère, micro lentilles, …)
- Couches minces (oxyde, résine, …)
- Cales étalons (Marche et Ra)
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