Caractérisation et préparation d’échantillons par microscopie électronique

Le lot couvre la préparation de lames minces et leur observation en microscopie électronique en transmission, ainsi que l’analyse chimique EDX standard. La résolution spatiale indiquée pour le lot est de 0,2 nm. Les prestations s’appliquent à des matériaux ou dispositifs organiques, inorganiques ou constitués d’assemblages, étudiés dans les domaines micro- et nanotechnologiques et de la photonique.

Préparation et observation

• Préparation FIB de lames TEM non localisées (motif > 1 µm) ou localisées (motif < 1 µm), longueur maximale de 15 µm.
• Prestations proposées pour 1, 2, 3 ou 4 lames, notamment sur une même grille TEM de type Omniprobe.
• Imagerie TEM et/ou STEM de morphologie et de structure, avec fourniture d’images ; certaines prestations comprennent également un rapport.

Analyses et livrables

• Analyse STEM/EDX avec images et rapport ; supplément prévu pour les demandes spécifiques ou les traitements supplémentaires : 1 h d’analyse et 1 h de rapport.
• Selon la tâche commandée, les livrables comprennent les lames préparées, des images, des mesures ou un rapport décrivant les conditions expérimentales et les résultats commentés. Le format Word ou PowerPoint est déterminé avec la demande.
• Volume estimatif indicatif : 150 lames minces par an, sans engagement du CEA.

Chaque demande écrite précise les échantillons, paramètres et tâches souhaités. Avant le bon de commande, le prestataire évalue la faisabilité technique et le délai. Il définit les protocoles d’envoi et de retour sécurisé, fournit au besoin des contenants adaptés et peut retourner les échantillons et lames par lots mensuels, sauf indication contraire. Les fichiers sont échangés via un canal informatique sécurisé. Le prestataire applique un système qualité d’un niveau équivalent à ISO 9001 version 2015 ; le CEA peut réaliser des audits.