Microscope électronique à émission de champ pour caractérisation des matériaux
Description des prestations
Fourniture complète de l'équipement
- Fourniture d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FEG) comprenant colonne électronique, détecteurs SE et rétrodiffusés, systèmes de pompage et de refroidissement, matériels informatiques, écrans de pilotage, licences logicielles et accessoires d'exploitation nécessaires au fonctionnement intégré.
Colonne et performances
- Colonne FEG avec tension accélératrice couvrant au minimum la plage 20 V à 30 kV.
- Plage de courant sonde 3 pA à 40 nA avec caractérisation / documentation de la stabilité du courant fournie par le constructeur.
- Résolutions cibles documentées pour imagerie SE et pour usages analytiques et EBSD (ex. résolutions sub-nanométriques en conditions haute tension et critères de performance basse tension et analytique requis).
Détecteurs et capacités analytiques
- Détecteurs SE intégrés (SE de colonne et SE de chambre) et détecteur rétrodiffusés intégré avec filtrage énergétique et observation à basse tension.
- Détecteur BSE segmenté (minimum 6 segments) avec acquisition multi-signaux simultanée et sélection angulaire pour optimisation EBSD.
- Système EBSD et système EDS compatibles, intégrables et utilisables simultanément avec acquisition multi-signal (au moins 4 signaux simultanés).
Chambre, platine et manipulations d'échantillons
- Chambre d'analyse grand volume (diamètre intérieur ≥ 350 mm, hauteur ≥ 250 mm) avec au moins 15 ports et sas rapide d'introduction.
- Platine motorisée 5 axes avec déplacements X ≥ 130 mm, Y ≥ 130 mm, Z ≥ 50 mm, inclinaison ≥ 70° et rotation 360°; fonctions de décélération d'énergie, prévention des collisions, navigation optique et système de mesure du courant sur échantillon.
- Zone d'imagerie analytique permettant un champ de repérage d'au moins 5 mm de largeur.
Compatibilité et transfert d'instruments existants
- Démontage, transfert, remontage et qualification des systèmes EBSD et EDS existants et intégration opérationnelle sur le nouveau MEB.
- Reprise et enlèvement de l'ancien MEB (modèle Zeiss Supra 40) aux frais du fournisseur.
Logiciels, informatique et périphériques
- Fourniture des postes informatiques, licences logicielles, mises à jour et écrans de pilotage.
- Logiciel d'acquisition multi-signal avec traitement d'images, mesures dimensionnelles, annotations automatiques, mosaïques, export vers formats TIFF/BMP/JPEG/PNG, gestion multi-sites/multi-échantillons et sauvegarde des paramètres d'acquisition.
- Fourniture d'UPS, meubles/supports, porte-échantillons, accessoires de maintenance et dispositifs de réduction du bruit des pompes primaires.
Installation, mise en service, qualification et formation
- Transport, installation complète, mise en service et qualification instrumentale (y compris essais et validations pour EBSD/EDS).
- Formation des utilisateurs et documentation technique fournie.
Garantie et maintenance
- Garantie pièces et main-d'œuvre incluse et prestation de maintenance tout inclus couvrant pièces essentielles (dont colonne) et interventions sur site; modalités de support et délai d'intervention à préciser par l'offrant.
Contraintes techniques complémentaires
- Stabilité mécanique et du faisceau adaptée à acquisitions longues et à l'acquisition EBSD sur matériaux ferromagnétiques, multimatériaux et déformés.
- Fourniture de tous les éléments nécessaires au fonctionnement exploitable de la chaîne instrumentale telle que décrite (pompes, refroidissement, protections, accessoires et logiciels).
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Critères d'évaluation
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|---|---|
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