Caractérisation électrique et essais de qualification de composants électroniques

Institut de recherche en astrophysique et planétologie (IRAP) — CNRS
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Date limite
3 août 2026 à 10 h
Localisation
Toulouse (31)
Durée
6 mois
Budget
Non précisé

Lot 1 — Résistances MCH2512K1003FB

Objet

  • Screening et essais de durée de vie (LAT) sur résistances haute tension MCH2512K1003FB (100 kΩ ±1% 100 ppm/°C, 2 W, 440 V, boîtier 2512).

Séquence de tests et quantités

  1. Screening général.
  2. Caractérisation initiale à température ambiante : mesures de résistance et de capacité selon ESCC4001 — 30 unités.
  3. Burn-in : 96 h à 70 °C, polarisation V_test = √(Pn × Rn) (procédures ESCC4001) — 30 unités.
  4. Caractérisation finale ambiante selon ESCC4001 — 30 unités.
  5. LAT : sélection de 15 pièces préalablement screenées, caractérisation initiale puis durée de vie 1000 h à 70 °C sous V_test = √(Pn × Rn) (Chart F4, V_test = tension max admissible 440 V) — 15 unités.
  6. Caractérisation finale après LAT selon ESCC4001 (V_test entre 100 V et 440 V selon besoin) — 15 unités.
  7. DPA (analyse physique destructive) : 3 échantillons issus du lot LAT, inspections selon ESCC21001 — 3 unités.

Contraintes spécifiques d'exécution

  • Respect strict des procédures ESCC applicables (ESCC4001, ESCC21001).
  • Consignes ESD : gants, bracelet antistatique, interdiction de contact peau/composant HV, outils et propreté adaptés, ne pas tordre ni endommager les composants.
  • Conditionnement anti-statique compatible salle blanche ISO8.

Entrées fournies

  • Spécifications génériques de screening et LAT, fiche technique fabricant, 30 unités à tester (avec date code/lot), revue de lancement (TRR).

Livrables attendus

  • Retour des 30 unités testées avec séparations d’emballages selon statut (screenés sans LAT, soumis à LAT, DPA dans sous-emballage séparé).
  • Rapports de test en anglais au format .pdf.

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