Acquisition d'un module de microscopie à sonde locale pour imagerie corrélative
Module SPM intégré pour imagerie corrélative
Description générale
Module de microscopie à sonde locale (SPM) conçu pour s'intégrer dans un microscope électronique à balayage (MEB) existant afin de permettre l'imagerie corrélative SPM/MEB avec modes électriques.
Fonctions principales
- Acquisition d'images SPM synchronisée avec imagerie MEB.
- Modes électriques pour caractérisation électrique locale en corrélation avec l'imagerie électronique.
Fournitures attendues
- Module SPM prêt à être intégré au MEB existant.
- Nanopositionneur et équipements associés prévus dans la décomposition du prix.
- Éléments matériels et câblages nécessaires à l'intégration mécanique et électrique au MEB (tels que spécifiés pour compatibilité avec l'enceinte et interfaces du MEB).
Installation, essais et réception
- Livraison et installation in situ sous la responsabilité du fournisseur.
- Remise d'un bon de livraison et rapport de tests et de mesures fournis et validés avant réception définitive.
- Livraison franco de port et d'emballage à l'établissement.
Documentation et formation
- Fourniture de la documentation technique et des protocoles d'essais.
- Sessions de formation incluses dans la décomposition du prix (formations opérationnelles et de mise en service).
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Critères d'évaluation
| Pondération | Critère |
|---|---|
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Visite de site
Date(s)
Non précisé
Lieu
Laboratoire UCCS Artois, Bâtiment C (salle du MEB) - Faculté des Sciences Jean Perrin, Lens
Contact
Christian Mathieu / Sébastien Saitzek
christian.mathieu@univ-artois.fr; sebastien.saitzek@univ-artois.fr
Modalités
Visite possible pendant le délai de consultation. Organisation de la visite par contact direct par courriel avec Christian Mathieu ou Sébastien Saitzek.
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