Fourniture d’un système d’imagerie en champ proche optique

- Fonctionnement avec une source laser externe.

• Système de détection :

  • Fonctionnement sur une gamme de fréquence de 400 nm à 900 nm.

• Logiciel d’acquisition :

  • Fourniture de matériel et documentation pour le contrôle de l’instrument.

• Opérations de vérification et d’admission :

  • Livraison et installation, mise en service, réalisation de tests, formation des utilisateurs, et réception des livrables.

• Formation à l’utilisation :

  • Formation sur l’utilisation de l’équipement et de son logiciel.

• Documentation :

  • Manuel d’utilisation et documentation technique.

• Garantie :

  • Garantie minimale de 12 mois.

• Support technique et service après-vente :

  • Services de maintenance préventive et corrective pendant la période de garantie.

2. Tranche optionnelle n° 1 : Fourniture d’un système de détection et d’une source laser pour la gamme infrarouge

• Spécifications techniques :

  • Compatibilité avec le système de la tranche ferme.
  • Système de détection fonctionnant dans la gamme infrarouge (15 μm à 5 μm).
  • Source laser à fréquence ajustable (5000 nm à 3636 nm).
  • Intégration complète au logiciel de la tranche ferme.

• Opérations de vérification et d’admission :

  • Livraison, mise en service, tests, formation, et réception des livrables.

• Formation à l’utilisation :

  • Formation sur le fonctionnement du système de détection et de la source laser.

• Documentation :

  • Documentation technique et manuels d’utilisation.

• Garantie :

  • Garantie minimale de 12 mois.

• Support technique et service après-vente :

  • Services de maintenance pendant la période de garantie.

3. Tranche optionnelle n° 2 : Extension de garantie du système d’imagerie et du système de détection d’un an

• Objet :
  • Extension de garantie d’un an pour les systèmes concernés.

4. Tranche optionnelle n° 3 : Contrat de maintenance du système d’imagerie et du système de détection de 2 ans

• Objet :
  • Contrat de maintenance de 2 ans pour les systèmes concernés.