Fourniture d’un système d’imagerie en champ proche optique

CEMES-CNRS
Voir la source
Date limite11 septembre 2025 à 12 h
LocalisationToulouse (31)
Durée
Non précisé
Budget
Non précisé

Prestations techniques demandées

1. Tranche ferme : Fourniture d’un système d’imagerie en champ proche optique pour la gamme du visible

  • Spécifications techniques :

    • Système de microcopie à force atomique (AFM) :
      • Positionnement échantillon avec 3 degrés de liberté (XYZ).
      • Résolution de positionnement inférieure ou égale à 200 nm.
      • Scanner avec contrôle en boucle ouverte ou fermée.
    • Système de mesure du champ proche optique :
      • Imagerie à l’échelle nanométrique avec une résolution spatiale inférieure à 50 nm.
      • Fonctionnement avec une source laser externe.
    • Système de détection :
      • Fonctionnement sur une gamme de fréquence de 400 nm à 900 nm.
    • Logiciel d’acquisition :
      • Fourniture de matériel et documentation pour le contrôle de l’instrument.
  • Opérations de vérification et d’admission :

    • Livraison et installation, mise en service, réalisation de tests, formation des utilisateurs, et réception des livrables.
  • Formation à l’utilisation :

    • Formation sur l’utilisation de l’équipement et de son logiciel.
  • Documentation :

    • Manuel d’utilisation et documentation technique.
  • Garantie :

    • Garantie minimale de 12 mois.
  • Support technique et service après-vente :

    • Services de maintenance préventive et corrective pendant la période de garantie.

2. Tranche optionnelle n° 1 : Fourniture d’un système de détection et d’une source laser pour la gamme infrarouge

  • Spécifications techniques :

    • Compatibilité avec le système de la tranche ferme.
    • Système de détection fonctionnant dans la gamme infrarouge (15 μm à 5 μm).
    • Source laser à fréquence ajustable (5000 nm à 3636 nm).
    • Intégration complète au logiciel de la tranche ferme.
  • Opérations de vérification et d’admission :

    • Livraison, mise en service, tests, formation, et réception des livrables.
  • Formation à l’utilisation :

    • Formation sur le fonctionnement du système de détection et de la source laser.
  • Documentation :

    • Documentation technique et manuels d’utilisation.
  • Garantie :

    • Garantie minimale de 12 mois.
  • Support technique et service après-vente :

    • Services de maintenance pendant la période de garantie.

3. Tranche optionnelle n° 2 : Extension de garantie du système d’imagerie et du système de détection d’un an

  • Objet :
    • Extension de garantie d’un an pour les systèmes concernés.

4. Tranche optionnelle n° 3 : Contrat de maintenance du système d’imagerie et du système de détection de 2 ans

  • Objet :
    • Contrat de maintenance de 2 ans pour les systèmes concernés.

Voir tous les détails

Cahier des charges, budget, contacts...

Préparez votre réponse

Critères d'évaluation

PondérationCritère

Voir tous les détails

Cahier des charges, budget, contacts...

Visite de site

Optionnelle

Date(s)

Non précisé

Lieu

Non précisé

Échantillons

Non requis

Préparez votre réponse avec notre IA experte du marché