Dispositif d'essais micromécaniques pour MEB
Description technique
Fonctions principales (poste ferme)
- Pilotage de l'indenteur avec contrôle de déplacement : plage utile > 10 µm; vitesses 0,1 µm/s à 200 µm/s; précision de déplacement < 1 nm.
- Mesure des efforts : cellule couvrant jusqu'à 1 N; résolution < 1000 nN pour quelques centaines de mN et < 100 nN pour quelques dizaines de mN.
- Positionnement automatisé X, Y, Z : course ≥ 10 mm, résolution de positionnement < quelques nm, stabilité en position.
- Pointes et dispositifs mécaniques : fourniture au minimum d'une pointe Berkovich et d'une pointe flat-punch; système d'accrochage pour éprouvettes "dogbone" inclus; flexibilité pour autres géométries/matériaux.
- Logiciel et informatique : environnement Windows 11; logiciel dédié pour pilotage, acquisition et analyse; export en formats texte et Excel; modes automatique et pilotage manuel.
Intégration, alimentation et contraintes physiques
- Compatibilité mécanique et connectique avec microscope électronique à balayage (interface et brides adaptées); connectique et alimentations secteur 100–240 Vac ±10 %, 50–60 Hz ±10 %.
- Contraintes climatiques et mécaniques : fonctionnement attendu en laboratoire régulé (température de fonctionnement +10 °C à +40 °C; hors fonctionnement -10 °C à +40 °C; humidité 30–70 %), résistance aux chocs/vibrations et manutention.
Essais et fourniture de références
- Capacité à réaliser nano-indentation instrumentée, cartographies d'indentation, essais de micro-compression (sur micro‑piliers usinés par FIB) et micro-traction sur éprouvettes micrométriques.
- Fourniture d'un échantillon de référence pour calibration et vérifications opérationnelles.
Livrables et validation
- Documentation technique en français et anglais (datasheet, manuel utilisateur, certificats qualité et d'étalonnage, matrice de conformité).
- Vérifications à la mise sous tension, certificats de conformité/étalonnage et versions préliminaires/définitives des documents.
Options techniques (fourniture optionnelle)
- Chauffage haute température : capacité jusqu'à 1000 °C, contraintes d'encombrement et connectique compatibles.
- Refroidissement cryogénique : performances jusqu'à -150 °C.
- Adaptateur double faisceau MEB/FIB (référence ZEISS CROSSBEAM 550L).
- Platine porte-échantillon rotative pour correction d'alignement.
Emballage, transport et installation
- Emballages et transport adaptés pris en charge par le fournisseur; livraison et installation sur site; tests, recettes et mise en service selon procédures qualité.
Tous les détails du marché
Gagnez du temps, toutes les infos des documents sont déjà analysées: cahier des charges, infos clés, budget, contact, etc
Préparez votre réponse
Critères d'évaluation
| Pondération | Critère |
|---|---|
Tous les détails du marché
Gagnez du temps, toutes les infos des documents sont déjà analysées: cahier des charges, infos clés, budget, contact, etc
Échantillons
Modalités de livraison
Échantillon exigé pour calibration et vérifications opérationnelles; quantités, adresse de livraison et dates limites non précisées dans les extraits fournis.
Produits à fournir
- Échantillon de référence pour étalonnage et vérification de la raideur du dispositif
Marchés similaires
Autres appels d'offres proches encore ouverts.
Machine de compression mécanique instrumentée à chaud
CNRS Délégation Paris-Centre
Presse électromécanique 100 kN
Ecole Nationale des Travaux Publics de l'État
Système couplé EDS/EBSD pour microscope électronique
Université de Montpellier
Posez vos questions sur le marché
Notre IA a lu l'intégralité du DCE et répond à toutes vos questions sur ce marché.