Acquisition d'un appareil de microscopie à sonde locale

Exigences techniques des équipements et prestations à fournir

• Description sommaire :
  • Microscope à force atomique (AFM) avec couplage optique droit, montable sur microscope optique inversé.
  • Balayage de 100 µm x 100 µm x 15 µm avec capteurs de position en X, Y et Z.
  • Intégration de mesures mécaniques et possibilité d'acquérir simultanément d'autres données (conductivité AFM).

Performances et caractéristiques des instruments recherchés

• Électronique de contrôle :
  • Numérique, haute performance, capture de données à grande vitesse, avec plusieurs canaux d'acquisition.
• Tête de mesure AFM :
  • Résolution atomique, modes d'imagerie variés, contrôle de force d'interaction.
• Détection optique :
  • Utilisation d'un laser IR avec des spécifications strictes sur les longueurs d'onde.
• Mesures STM et AFM-conducteur :
  • Modes spécifiques avec caractéristiques de polarisation et de courant.
• Mesures mécaniques :
  • Intégration de cartographies de propriétés mécaniques et contrôle asservi du mouvement.