Acquisition d'un appareil de microscopie à sonde locale

CNRS
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Date limite4 septembre 2025 à 07 h
LocalisationOrsay (91)
Durée
42 semaines à compter de la notification
Budget
Non précisé

Prestations techniques demandées

  1. Exigences techniques des équipements et prestations à fournir

    • Description sommaire :
      • Microscope à force atomique (AFM) avec couplage optique droit, montable sur microscope optique inversé.
      • Balayage de 100 µm x 100 µm x 15 µm avec capteurs de position en X, Y et Z.
      • Intégration de mesures mécaniques et possibilité d'acquérir simultanément d'autres données (conductivité AFM).

  2. Performances et caractéristiques des instruments recherchés

    • Électronique de contrôle :
 - Numérique, haute performance, capture de données à grande vitesse, avec plusieurs canaux d'acquisition.
  • Tête de mesure AFM :
    • Résolution atomique, modes d'imagerie variés, contrôle de force d'interaction.
  • Détection optique :
    • Utilisation d'un laser IR avec des spécifications strictes sur les longueurs d'onde.
  • Mesures STM et AFM-conducteur :
    • Modes spécifiques avec caractéristiques de polarisation et de courant.
  • Mesures mécaniques :
    • Intégration de cartographies de propriétés mécaniques et contrôle asservi du mouvement.

  1. Livraison et installation sur site

    • Installation dans des locaux spécifiques avec conditions de température contrôlées.
    • Responsabilité du titulaire pour l'adaptation du mode de livraison.

  2. Recette technique

    • Délai de 8 semaines pour la vérification qualitative de l'instrument après validation des prestations.

  3. Garantie

    • Durée de 24 mois, couvrant tous les déplacements et pièces, sauf consommables.
    • Interventions illimitées avec délais d'intervention spécifiés.

  4. Formation

    • Formation sur site pour 4 utilisateurs, couvrant l'utilisation de l'appareil et des logiciels associés.

  5. Documentation

    • Fourniture de toute la documentation nécessaire pour le fonctionnement et la maintenance de l'équipement.
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