Fourniture d’un microscope infrarouge à transformée de Fourier

Université Gustave Eiffel
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Date limite4 août 2025 à 10 h
LocalisationMarne-la-Vallée (77)
Durée
Non précisé
Budget
Non précisé

Détails des prestations techniques demandées

Le marché concerne la fourniture d'un microscope infrarouge à transformée de Fourier (IRTF) avec les spécifications suivantes :

  • Caractéristiques techniques du microscope :
    • Indépendant et compact, ne nécessitant pas de spectromètre externe.
    • Équipé d'une caméra.
    • Capable de réaliser des mesures en modes ATR et Réflexion de 670 à 4000 cm-1.
    • Comprend deux détecteurs : un refroidi et un non refroidi.
    • Livré avec une pointe cristal ATR en germanium avec contrôle de la pression.
  • Capable d'analyser des échantillons épais.

  • Facilité de maintien et de positionnement des échantillons.

  • Caractéristiques techniques supplémentaires :

    • Détecteur non refroidi avec une résolution spatiale minimale de 20 µm.
    • Détecteur refroidi à l'azote liquide avec une résolution spatiale pouvant atteindre 5 µm.
    • Garantie de la source laser, source Moyen Infra Rouge (MIR) et interféromètre d'au moins 5 ans.
    • Taille de la pointe du cristal suffisamment petite pour accéder à des surfaces planes d'échantillons structurés.
    • Table motorisée (xy) pour cartographie.
    • Résolution spectrale d'au moins 4 cm-1.
    • Vitesse d'acquisition d'au moins 1 spectre/sec à une résolution de 4 cm-1.
    • Qualité de l'image permettant de bien situer la zone à analyser.
    • Licence de logiciel d'exploitation pouvant être installée sur plusieurs postes de travail.
    • Formation pour au moins 3 utilisateurs sur l'utilisation du microscope.
    • Fourniture de deux étalons de vérification à la livraison.
  • Entretien et vérification :

    • Recommandations d'entretien de premier niveau, incluant le nettoyage du cristal.
    • Fréquence des vérifications nécessaires au fonctionnement du système.
  • Prestations supplémentaires éventuelles :

    • PSE 1 : Extension de garantie d'un an pour la source laser, source MIR et interféromètre.
    • PSE 2 : Extension de garantie de deux ans.
    • PSE 3 : Extension de garantie de trois ans.
    • PSE 4 : Extension de garantie d'un an pour le reste du matériel.
    • PSE 5 : Extension de garantie de deux ans pour le reste du matériel.
    • PSE 6 : Extension de garantie de trois ans pour le reste du matériel.
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Critères d'évaluation

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